沈青教授（基盤理工学専攻）およびShi Guozheng客員研究員（研究当時）らの研究グループは、東京大学先端科学技術研究センターの久保貴哉特任教授、瀬川浩司シニアリサーチフェロー（研究当時：東京大学大学院総合文化研究科教授）、ならびに中国の蘇州大学のMa Wanli教授の研究グループとの共同研究により、次世代太陽電池材料として注目されるコロイド量子ドット（CQD）インクにおいて、世界最先端の超低温蛍光マッピング技術を用いて薄膜の形態欠陥に由来する発光を直接観測することに成功しました。